JTAG
JTAG（Joint Test AcTIon Group；联合测试工作组）是一种国际标准测试协议（IEEE 1149.1兼容），主要用于芯片内部测试。现在多数的高级器件都支持JTAG协议，如DSP、FPGA器件等。标准的JTAG接口是4线：TMS、TCK、TDI、TDO，分别为模式选择、时钟、数据输入和数据输出线。标准的JTAG接口是4线：TMS、TCK、TDI、TDO，分别为模式选择、时钟、数据输入和数据输出线。
JTAG引脚定义：
具有JTAG口的芯片都有如下JTAG引脚定义：
TCK——测试时钟输入；
TDI——测试数据输入，数据通过TDI输入JTAG口；
TDO——测试数据输出，数据通过TDO从JTAG口输出；
TMS——测试模式选择，TMS用来设置JTAG口处于某种特定的测试模式。
可选引脚TRST——测试复位，输入引脚，低电平有效。
含有JTAG口的芯片种类较多，如CPU、DSP、CPLD等。
JTAG内部有一个状态机，称为TAP控制器。TAP控制器的状态机通过TCK和TMS进行状态的改变，实现数据和指令的输入。
JLINK
J-Link是针对ARM设计的一个小型USB到JTAG转换盒。它通过USB连接到运行Windows的PC主机。J-Link无缝集成到IAR Embedded Workbench for ARM中，它完全兼容 PNP（即插即用）：
（1）支持所有ARM7和ARM9体系;
（2）下载速度高达50KB/秒;
（3）无需外接电源（USB取电）
（4）最高JTAG速度达8MHz
（5）自动速度识别
（6）固件可升级;
（7）20脚标准JTAG连接器;
（8）带USB连线和20脚的扁平线缆;
（9） 可以用于KEIL ，IAR ，ADS 等平台 速度，效率，功能均比ULINK强 J-LINK仿真器V8版，其仿真速度和功能远非简易的并口WIGGLER调试器可比。J-LINK支持ARM7、ARM9、ARM11、Cortex-M3核心，支持ADS、IAR、KEIL开发环境。
V8.0版本除拥有上一版本V7.0的全部功能外，软硬件上都有改进：
（1）V8.0版的SWD硬件接口支持1.2-5.0V的目标板，V7.0只能支持3.3V的目标板。
（2）V8.0使用双色LED可以指示更多的工作状态，V7.0只有1个LED指示灯。
（3）V8.0增强了JTAG驱动能力，提高了目标板的兼容性。
（4）优化了固件结构，使应用程序区扩大一J-Link ARM主要特点。
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